職責(zé)描述： 1、負(fù)責(zé)SCAN/MBIST等數(shù)字測(cè)試，包括Pattern轉(zhuǎn)換，測(cè)試過(guò)程Debug等； 2、負(fù)責(zé)尋找外部測(cè)試資源（預(yù)定測(cè)試機(jī)臺(tái)等）； 3、負(fù)責(zé)CP測(cè)試程序和FT測(cè)試程序開(kāi)發(fā)（包括數(shù)字功能和模擬參數(shù)測(cè)試）； 4、負(fù)責(zé)FT測(cè)試程序和FT測(cè)試程序開(kāi)發(fā)（包括數(shù)字功能和模擬參數(shù)測(cè)試）； 5、優(yōu)化測(cè)試程序，減少測(cè)試時(shí)間； 6、協(xié)助MCU回片測(cè)試，包括制作測(cè)試電路版等； 7、協(xié)助提高測(cè)試良率撰寫測(cè)試檔。任職要求： 1、本科及以上 2、電子類軟件類計(jì)算機(jī)通信等相關(guān)專業(yè)知識(shí) 3、扎實(shí)的電路理論基礎(chǔ)行業(yè)經(jīng)驗(yàn)專業(yè)經(jīng)驗(yàn)數(shù)字測(cè)試經(jīng)驗(yàn) 4、3年以上數(shù)字測(cè)試經(jīng)驗(yàn)專業(yè)資格證技能 5、熟悉CP/FT測(cè)試程序開(kāi)發(fā)，熟悉多個(gè)測(cè)試平臺(tái)，熟悉SCAN/Mbist測(cè)試

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